
走査型電子顕微鏡 |
走査型電子顕微鏡(SEM)とエネルギー分散型X線分析装置(EDS)
走査電子顕微鏡(SEM:Scanning Electron Microscope)は、試料の表面状況を低倍率から高倍率までの連続的な観察に優れた顕微鏡です。その特性から、たとえば破損品の原因調査における破面様相観察や光学顕微鏡では観察できない金属組織の微視的観察などに適用されます。また、SEMに分析装置を装着することで、多様な分析を行うことができます。
弊社では最新のSEMとエネルギー分散型分析装置(EDS:Energy Dispersive x-ray Spectroscopy)を導入し、サンプリング材調査等におけるさまざまなニーズにお応えいたします。 |